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集成電路系統設計、驗證與測試

【作　者】：（美國）Louis Scheffer 等著；陳力穎、王猛譯

【叢編項】：集成電路EDA技術

【裝幀項】：平裝 16 / 475

【出版項】：科學出版社 / 2008年

【ISBN號】：9787030214904 / 7030214900

【原書定價】：￥62.00　有2家書店打折銷售

【主題詞】：工業技術－電子通信－微電子學、集成電路（IC）

書籍介紹

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【圖書簡介】
　　本書是“集成電路EDA技術”叢書之一，內容涵蓋了IC設計過程和EDA，系統級設計方法與工具，系統級規范與建模語言，SoC的IP設計，MPSoC設計的性能驗證方法，處理器建模與設計工具，嵌入式軟件建模與設計，設計與驗證語言，數字仿真，并詳細分析了基于聲明的驗證，DFT，而且專門探討了ATPG，以及模擬和混合信號測試等，本書還為IC測試提供了方便而全面的參考。本書可作為從事電子科學與技術、微電子學與固體電子學以及集成電路工程的技術人員和科研人員即以高等院校師生的常備參考書。

【本書目錄】
第1部分介紹
第1章引言
第2章 IC設計流程和EDA
第2部分系統級設計
第3章系統級設計中的工具和方法
第4章系統級定義和建模語言
第5章 SoC基于模塊的設計和IP集成
第6章多處理器的片上系統設計的性能評估方法
第7章系統級電源管理
第8章處理器建模和設計工具
第9章嵌入式軟件建模和設計
第10章利用性能指標為IC設計選擇微處理器內核
第11章并行高層次綜合：一種高層次綜合的代碼轉換方法
第3部分微機系結構設計
第12章周期精準系統級建模和性能評估
第13章微機系結構的功耗估計和優化
第14章設計規劃
第4部分邏輯驗證
第5部分測試

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